In this paper is presented an apparatus for measuring the absolute thermopower of semiconductor specimens as a function of temperature is described. It is designed for fast investigation of very short samples. The method has been applied to pyrite and galena single crystals in the temperature range 10-110 C.
Στην παρούσα εργασία περιγράφεται συσκευή μετρήσεως της απόλυτης θερμοηλεκτρικής ισχύος ημιαγωγών συναρτήσει της θερμοκρασίας, για την γρήγορη διερεύνηση πολύ βραχέων δοκιμιών.
Γίνεται εφαρμογή της μεθόδου σε δοκίμια μονοκρυστάλλων σιδυροπυρίτη και γαληνίτη, στην περιοχή θερμοκρασιών 10-110C.
